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EDX-LE能量色散X射線分析是一款于RoHS/ELV/法規(guī)限制的有害元素篩選分析的X射線熒光分析裝置。配備無需液氮型電子制冷（Si-PIN檢測器）檢測器，因此在實現(xiàn)降低運作成本和更易維護的同時，以維持高可信性分析和進一步提高操作性達到自動化分析為目標。EDX-LE能量色散X射線分析根據(jù)不同樣品從開始測試到得到結(jié)果所需測試時間基本上可在1分鐘內(nèi)完成。1、數(shù)據(jù)偏差這可能與選擇樣品測量的類型不一樣，還有就是樣品光譜無意中覆蓋一個樣品檢驗，這就使得在測試結(jié)果上會存在很大的不同，而造...

EDX-LE能量色散X射線分析是一款于RoHS/ELV/法規(guī)限制的有害元素篩選分析的X射線熒光分析裝置。配備無需液氮型電子制冷（Si-PIN檢測器）檢測器，因此在實現(xiàn)降低運作成本和更易維護的同時，以維持高可信性分析和進一步提高操作性達到自動化分析為目標。根據(jù)不同樣品從開始測試到得到結(jié)果所需測試時間基本上可在1分鐘內(nèi)完成。EDX-LE能量色散X射線分析儀功用優(yōu)勢：1、選用職業(yè)*極速勘探器技能——（SDD）分辨率至125eV優(yōu)勢：勘探面積大（面積達25mm2）、單位時間內(nèi)承受信息...

液質(zhì)聯(lián)用儀是實現(xiàn)樣品液相分離并檢測過程的儀器，無論液質(zhì)聯(lián)用儀的類型如何變化，構(gòu)成質(zhì)譜系統(tǒng)的5個基本組成部分皆是相同的，它們是接口、電離源、真空系統(tǒng)、檢測系統(tǒng)及數(shù)據(jù)處理系統(tǒng)。電離源是將引入的樣品轉(zhuǎn)化為正或負離子，并使之加速，聚焦為離子束的裝置。電離樣品分子所需要的能量隨分子類型的不同而變化，因此，應(yīng)根據(jù)分子的類型選擇與之適配的電離源。清洗離子源分為以下三個步驟：（1）取出離子源。停止真空后，擰松真空艙旋鈕，拉開艙門，用鑷子拔下排斥極擋片，把導(dǎo)線移到左邊，把離子源安裝桿放在離子源...

研究級的分光光度計由于準確度高、測定限度低、設(shè)備簡便、儀器成本低、易于操作等優(yōu)點，已成為制藥生產(chǎn)中常備的檢測設(shè)備之一。研究級的分光光度計可應(yīng)用于制藥行業(yè)，藥品是關(guān)乎人類健康的特殊產(chǎn)品，藥品的生產(chǎn)過程，從原料、生產(chǎn)過程、設(shè)備、軟件到人員操作都有著明確的規(guī)范管理。安全、有效、可控6個字是評價藥品好壞的標準。為保證藥品生產(chǎn)處于符合藥品質(zhì)量的要求，現(xiàn)代藥品在整個中間體及成品的生產(chǎn)過程中，都要受到各種方法的檢測和監(jiān)控，高效液相色譜儀、氣相色譜儀、紫外分光光度計等是制藥生產(chǎn)中常用的檢測儀...

光具有與其波長成反比的一定量的能量。因此，較短波長的光攜帶更多的能量，而較長波長的光攜帶較少的能量。需要特定量的能量來將物質(zhì)中的電子提升到更高的能量狀態(tài)，我們可以將其檢測為吸收。物質(zhì)中不同鍵合環(huán)境中的電子需要不同的特定能量來將電子提升到更高的能量狀態(tài)。這就是為什么在不同物質(zhì)中對不同波長會發(fā)生光吸收的原因。人類能夠看到一系列可見光，從大約380nm（我們看到的紫色）到780nm（我們看到的紅色）。紫外光的波長比可見光短，約為100nm。因此，光可以通過其波長來描述，這在UV-V...

EDX-LE能量色散X射線分析—般指X射線熒光光譜分析，運用初級X射線光子或其他微觀離子激起待測物質(zhì)中的原子，使之發(fā)生熒光(次級X射線)而進行物質(zhì)成分分析和化學(xué)態(tài)研討的辦法。按激起、色散和探測辦法的不同，分為X射線光譜法(波長色散)和X射線能譜法(能量色散)。EDX-LE能量色散X射線分析根據(jù)色散方法不同，X射線熒光分析儀相應(yīng)分為X射線熒光光譜儀(波長色散)和X射線熒光能譜儀(能量色散)。EDX-LE能量色散X射線分析是確定物質(zhì)中微量元素的品種和含量的一種辦法，又稱X射線次級...

掃描電子顯微鏡(SEM)是一種介于透射電子顯微鏡和光學(xué)顯微鏡之間的一種觀察手段。其利用聚焦的很窄的高能電子束來掃描樣品,通過光束與物質(zhì)間的相互作用,來激發(fā)各種物理信息,對這些信息收集、放大、再成像以達到對物質(zhì)微觀形貌表征的目的。成像原理：掃描電鏡的成像是靠掃描作用實現(xiàn)的。掃描發(fā)生器同時控制高能電子束和熒光屏中的電子束“同步掃描”，當電子束在樣品上進行柵格掃描時，在熒光屏上也以相同的方式同步掃描，因此“樣品空間”上的一系列點就與“顯示空間”逐點對應(yīng)。換言之，樣品上電子束的各個位...